Topographiemessungen

Erfassung von Oberflächenprofilen und -strukturen, um dreidimensionale Höhenbilder von Oberflächen zu erstellen. Dies ist entscheidend für die Bewertung von Materialien wie Halbleitern, Mikrochips und anderen fein strukturierten Bauteilen.
Preis: 50.00 €/Stück.

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